詳細摘要： JEM-ARM300F實現(xiàn)了高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率，配備了JEOL自主研發(fā)的球差校正器，加速電壓可達300kV，是一款原子級分辨率電子顯微鏡...
產(chǎn)品型號：所在地：北京市更新時間：2024-02-20 在線留言縫前設(shè)備 縫制設(shè)備 縫制配件 整理設(shè)備 繡花機 內(nèi)衣機械 服裝輔助設(shè)備 洗滌機械 二手服裝機械 其它服裝機械
北京培科創(chuàng)新技術(shù)有限公司
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詳細摘要： JEM-ARM300F實現(xiàn)了高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率，配備了JEOL自主研發(fā)的球差校正器，加速電壓可達300kV，是一款原子級分辨率電子顯微鏡...
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詳細摘要： 為了響應近來已成為主流的遠程操作的需求，NEOARM的電鏡室和操作室實行了分離式，主機使用了JEOL的新概念顏色—純白色和JEOL銀色，設(shè)計精煉時尚。
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詳細摘要： 多功能電子顯微鏡JEM-2100Plus性能*，操作方便，簡明易懂，能在材料、醫(yī)學、生物學等多個研究領(lǐng)域提供優(yōu)異的解決方案。
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詳細摘要： Planet便攜式X射線粉末衍射儀的結(jié)構(gòu)采用Seemann-Bohlin聚焦幾何方法，是世界上一款具有測角儀結(jié)構(gòu)的便攜式X射線衍射儀。
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詳細摘要： Guinier-X射線超高精快速粉末衍射儀運用成像板技術(shù)，通過成熟的工藝技術(shù)，配合高壓系統(tǒng)DiamondAnvilCellHolder670.5，可實現(xiàn)在高達7...
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詳細摘要： 通過應用x射線研究的進展，CT-alpha納米管為高分辨率測量提供了一種的解決方案，遠遠于現(xiàn)有的工業(yè)微型CT掃描儀。
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詳細摘要： “美國ISS——同時提供時域TCSPC和數(shù)字頻域FastFLIM™兩種熒光壽命成像技術(shù)解決方案！"市場上熒光壽命的測量方式可分為時域法和頻域法，兩者...
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詳細摘要： ISSHPCell 高壓倉系統(tǒng)包含壓力樣品倉，靜壓泵，控制系統(tǒng)以及數(shù)據(jù)采集模塊。整套系統(tǒng)可直接裝配于ISS公司的所有熒光光譜測試系統(tǒng)中，也可作為獨立附件適配于其...
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詳細摘要： AntonPaar拉曼光譜儀配有非常便利的樣品測試系統(tǒng)，在主機結(jié)構(gòu)不變的情況下可實現(xiàn)不同樣品支架迅速切換。
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詳細摘要： ICSPI通過整合機電一體化系統(tǒng)，將傳統(tǒng)AFM集成到 一個CMOS芯片上，設(shè)計生產(chǎn)出世界單芯片動態(tài) 原子力顯微鏡（Single-Chip Dynamic Ato...
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詳細摘要： 聲波(超聲波)已經(jīng)作為一種常見無損檢測手段，在工業(yè)或醫(yī)療領(lǐng)域的宏觀范圍內(nèi)的測試得到廣泛應用。另一方面，我們每天使用的電子器件裝置越來越集成和復雜，尺寸越來越小。...
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詳細摘要： 新款120kV透射電子顯微鏡JEM-1400Flash配備了高靈敏度sCMOS相機、超大視野的蒙太奇系統(tǒng)以及與光學顯微鏡圖像的聯(lián)動功能。
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詳細摘要： JED-2300TAnalysisStation是以“圖像觀察和分析"為基本理念的TEM/EDS集成系統(tǒng)。在分析數(shù)據(jù)過程中，自動采集電鏡主機的倍率、加速電壓等參...
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詳細摘要： JSM-7200F的電子光學系統(tǒng)應用了日本電子旗艦機-JSM-7800FPrime采用的浸沒式肖特基電子槍技術(shù)，標配了TTLS系統(tǒng)（Through-The-Le...
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詳細摘要： 肖特基場發(fā)射掃描電子顯微鏡能長時間穩(wěn)定地提供高電流下的微細探針，與View®2XP（Gatan公司制造）結(jié)合使用，能對樣品進行自動切割，自動獲取圖像。通...
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詳細摘要： JSM-IT500是JEOLInTouchScope系列的新機型。從設(shè)定視野到生成報告，用于分析的軟件整合于一體，加快了作業(yè)速度！是一款無縫操作，使用更加方便的...
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詳細摘要： JEOL新一代場發(fā)射掃描電子顯微鏡的旗艦機型。它繼承了上一代廣獲好評的性能如的空間分辨率、高穩(wěn)定性、多種功能等的同時，操作性能極大簡單化。該設(shè)備不依賴操作者的技...
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