簡介︰
“ 美國ISS——同時提供時域TCSPC和數(shù)字頻域FastFLIM™兩種熒光壽命成像技術(shù)解決方案!”市場上熒光壽命的測量方式可分為時域法和頻域法,兩者在本質(zhì)上是相通的,測量精度相近,頻域技術(shù)是時域法的傅里葉變換的延伸。時域和頻域技術(shù)在各種顯微壽命成像平臺中都有應(yīng)用,時間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)方法(TCSPC )是常見的時域技術(shù),而新興的數(shù)字頻域技術(shù)(FastFLIM™ )則取代了傳統(tǒng)的模擬頻域技術(shù),憑借其獨(dú)恃的優(yōu)勢成為應(yīng)用的頻域技術(shù)。
產(chǎn)品概述和特點(diǎn)
FastFLIM基本原理
利用脈沖光源代替調(diào)制光源對樣品進(jìn)行激發(fā);發(fā)射光子通過光子計(jì)數(shù)檢測器接收,不對檢測器進(jìn)行調(diào)制,而是通過FastFLIM對接收的光子信號進(jìn)行數(shù)字轉(zhuǎn)換并記錄到代表不同相位的采樣窗口,其采樣頻率fs由FastFLIM根據(jù)激發(fā)頻率fex而生成,兩者的差值稱為互相關(guān)頻率fcc,其倒數(shù)(1/fcc)正是相位采樣的時間窗口;通過對接收光子的累積而生成相位直方圖(cross correlation phase histogram);通過對相位直方圖的數(shù)字傅里葉變換處理可以得到在激光重復(fù)頻率及多個倍頻下的相位延遲(φ)和振幅解調(diào)(m),用于單指數(shù)或多指數(shù)的熒光壽命分析。
FastFLIM的優(yōu)勢
Ø高效快速的數(shù)據(jù)采集模式(99% duty cycle),幾乎無死亡時間;
Ø光子計(jì)數(shù)動態(tài)范圍大,線性度高,數(shù)據(jù)采集率可達(dá)每秒計(jì)數(shù)6x107;
Ø提供四個數(shù)據(jù)輸入通道,同時對四個檢測器進(jìn)行并行數(shù)據(jù)采集;
Ø靈活度高,應(yīng)用范圍廣,100ps到100ms的無間斷壽命測量;
Ø可接入多種模式觸發(fā)信號與脈沖激光或其它測量設(shè)備同步;
Ø可輸出多種模式觸發(fā)信號來調(diào)控脈沖激光重復(fù)率或調(diào)制激光或同步其它測量設(shè)備;
ØVistaVision提供了多種針對于FastFLIM壽命數(shù)據(jù)的分析方法;
Ø通過USB與電腦連接,操作方便簡單,軟件調(diào)控。