CHY-C2測(cè)厚儀-labthink
【簡(jiǎn)單介紹】
【詳細(xì)說明】
測(cè)厚儀適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。測(cè)厚儀符合GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374等多項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)。
測(cè)厚儀采用自動(dòng)進(jìn)樣系統(tǒng),大大提高了測(cè)試效率滿足客戶高效測(cè)試需求;參數(shù)設(shè)置簡(jiǎn)單方便,范圍寬;機(jī)械接觸式測(cè)量,不受被測(cè)材料限制,可設(shè)置多個(gè)測(cè)量點(diǎn)數(shù);測(cè)量數(shù)據(jù)大屏幕液晶顯示,清晰直觀,在測(cè)量過程中可即時(shí)顯示zui大值、zui小值、平均值和標(biāo)準(zhǔn)偏差。
測(cè)厚儀具有RS232通信接口,可連接計(jì)算機(jī)軟件,軟件功能強(qiáng)大,厚度起伏曲線、偏差圖和圓形坐標(biāo)圖等3種圖形顯示,可以讓使用者更好地觀察測(cè)量結(jié)果,便于分析判斷。同時(shí)還具備手動(dòng)測(cè)量功能,可以采用手動(dòng)測(cè)量方式對(duì)被測(cè)材料進(jìn)行逐點(diǎn)測(cè)量。
測(cè)厚儀技術(shù)指標(biāo):
測(cè)量范圍:0~2mm
0~6mm;12mm(可選)
分 辨 率:0.1μm
測(cè)量壓力:17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(紙張)
接觸面積:50mm2(薄膜);200mm2(紙張)
注:薄膜、紙張任選一種;非標(biāo)可定制
進(jìn)樣步距:0~1000mm
進(jìn)樣速度:0.1~99.9mm/s
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郵編:250031
聯(lián)系人:濟(jì)南蘭光
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