掃描探針顯微鏡SPM-9700·觀察倍率:千~數(shù)百萬倍
掃描探針顯微鏡(Scanning Probe Microscope,SPM)是掃描隧道顯微鏡及在掃描隧道顯微鏡的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的各種新型探針顯微鏡(原子力顯微鏡,靜電力顯微鏡,磁力顯微鏡,掃描離子電導(dǎo)顯微鏡,掃描電化學(xué)顯微鏡等)的統(tǒng)稱,是國際上近年發(fā)展起來的表面分析儀器,是綜合運用光電子技術(shù)、激光技術(shù)、微弱信號檢測技術(shù)、機械設(shè)計和加工、自動控制技術(shù)、數(shù)字信號處理技術(shù)、應(yīng)用光學(xué)技術(shù)、計算機高速采集和控制及高分辨圖形處理技術(shù)等現(xiàn)代科技成果的光、機、電一體化的高科技產(chǎn)品。
可測定高度: 5um,15um〔選配】·樣品尺寸:24mmx8mm
可在大氣中簡單的進行高倍表面觀察,可直接觀察非導(dǎo)電樣品,并可測定樣品表面的高程差。探針可測定樣品的物理性質(zhì)。追加可控氣氛分析室可升級為可控氣氛SPM。