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鹽城金格瑞無損檢測設(shè)備有限公司
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閱讀：18發(fā)布時間：2025-2-14
檢測原理
探傷機陣列渦流檢測原理陣列渦流技術(shù)與傳統(tǒng)渦流技術(shù)具有相同的檢測將通人交變電流的激勵線圈放置在導(dǎo)電部件一時，導(dǎo)體表面會產(chǎn)生渦流，導(dǎo)體中的缺陷會干擾渦流路徑，這種干擾可以通過檢測線圈來測量，進(jìn)而判磁粉探傷機
斷出缺陷的情況"。陣列渦流探頭具有多個獨立工作的線圈,這些線圈按照特殊的方式排布，激勵線圈和檢測線圈之間形成兩種方向相互垂直的電磁場傳遞方式，可減少因缺陷方向造成的漏檢,并且可實現(xiàn)一次性大面積掃查,得到C掃描成像結(jié)果。為了保
證激勵磁場和感應(yīng)磁場之間不相互干擾，陣列渦流技術(shù)通常采用多路切換技術(shù)對感應(yīng)線圈進(jìn)行分時分批激勵。陣列渦流檢測的結(jié)果通常以C掃描顯示為主,同時生成阻抗圖和帶狀圖,通過不同的顏色顯示來判斷缺陷的情況[3]。
1.2全聚焦相控陣檢測原理
全聚焦相控陣檢測過程主要包括兩個部分:全
矩陣數(shù)據(jù)采集(FMC)和全聚焦成像算法。
全矩陣數(shù)據(jù)采集原理為假定相控陣探頭具有n
個陣元，激發(fā)個陣 元，所有陣元接收回波信號并
儲存,按照此規(guī)律，依次激發(fā)所有陣元，最后采集得
到nXn個時域超聲回波信號，因為被采集數(shù)據(jù)存
儲在一個n行n列的矩陣中，所以稱之為全矩陣數(shù)試驗采用64 晶片，頻據(jù)采集[4]。
全聚焦成像算法原理為針對所檢區(qū)域設(shè)定
個自定義成像區(qū),得到任意一- 點到任意一對品片
組合的聲程，再以成像區(qū)中的聲程數(shù)據(jù)為依據(jù)，對
FMC數(shù)據(jù)進(jìn)行相干疊加處理,獲得表征該點信息
的幅值。采用該算法得到自定義成像區(qū)內(nèi)每點的
成像，最終達(dá)到各點能量高度聚焦的效果"。
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