美國MAS高濃度納米粒度儀

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更新時間：2024-07-31 15:07:52瀏覽次數(shù)：147次

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  納米粒度儀及電位分析儀

CHDF4000高分辨納米粒度儀

原液在線檢測分析儀

ZetaZF400-電位分析儀

Zeta-APS電位分析儀

APS-100高濃度納米粒度儀

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蘇州胤煌精密儀器科技有限公司

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)品參數(shù)美國MAS高濃度納米粒度儀
APS從聲衰減光譜測量產(chǎn)生PSD數(shù)據(jù)，不需要稀釋樣品

詳細介紹

產(chǎn)品參數(shù)

美國MAS高濃度納米粒度儀
APS 從聲衰減光譜測量產(chǎn)生PSD數(shù)據(jù)，不需要稀釋樣品。APS還測量粒度范圍的10納米到100微米的樣品的聲音速度譜、pH、電導率和溫度。

屬性: 產(chǎn)品名稱; 型號; 廠商性質(zhì); 訪問量; 更新時間

詳情: 美國MAS高濃度納米粒度儀; APS100型; 美國進口; 12次; 2023-02-21

產(chǎn)品詳情

美國MAS高濃度納米粒度儀

原理簡介：

APS 從聲衰減光譜測量產(chǎn)生PSD數(shù)據(jù)，不需要稀釋樣品。APS還測量粒度范圍的10納米到100微米的樣品的聲音速度譜、pH、電導率和溫度。

當聲音穿越泥漿或膠體時，是衰減的。衰減的程度與粒度分布有關(guān)。APS可在1 - 100 MHz的頻率范圍內(nèi)非常準確地測量聲音衰減。因為聲音穿過所有的物質(zhì)媒介，APS聲音衰減的測量可以在高濃度和/或不透明的樣品中進行。粒子沉降并不是一個問題，因為在測量時樣品可以被攪拌或泵送。APS分析不受樣品的Zeta電勢水平的約束。APS很容易分析零粒子和高電荷。

APS取樣分析是快速和容易的，無需稀釋樣品。稀釋樣品費時，容易出錯，并可能改變樣品的實際PSD。簡單地倒，或者連續(xù)泵送樣品進入到APS的樣品室，APS的直觀的軟件在幾分鐘內(nèi)做玩余下的工作。

計算詳細PSD數(shù)據(jù)的技術(shù)，不需要假設(shè)PSD形狀。其他類型的儀器，例如光散射，意味著軟件或操作者假設(shè)或猜測PSD是單峰、雙峰、對數(shù)正態(tài)或高斯分布的。這種假設(shè)可能導致數(shù)據(jù)不可靠。

專門的APS硬件設(shè)計簡化了操作，同時減少維護。這個設(shè)計適合研發(fā)以及重復質(zhì)量控制測量。APS也適合過程在線操作。

美國MAS高濃度納米粒度儀

主要用途：

1)半導體化學機械拋光(CMP)料漿；

2)陶瓷；

3)油墨；

4)乳劑穩(wěn)定性；

5)藥品；

6)生物膠體；

7)熒光粉；