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X射線(xiàn)分析顯微鏡

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X射線(xiàn)分析顯微鏡

詳細(xì)介紹

概要

　　一代的X射線(xiàn)熒光分析顯微鏡XGT-7000開(kāi)創(chuàng)了科學(xué)分析的新時(shí)代。它將光學(xué)圖像與元素分析地結(jié)合，為科研工作者的研究和分析提供了新的分析手段。

　　SDD檢測(cè)器保證了高速、高精度元素面掃描；高能量分辨率，高計(jì)數(shù)率的測(cè)量，且無(wú)需液氮。

　　雙真空式設(shè)計(jì)確保用戶(hù)可以在幾秒鐘內(nèi)完成樣品室內(nèi)部氛圍的切換（大氣或真空）。即使測(cè)量含水樣品、生物樣品時(shí)也可以保證測(cè)量所有元素的高靈敏度。

　　的硬件設(shè)計(jì)確保了XGT-7000操作的靈活性和廣泛的應(yīng)用范圍。通過(guò)軟件控制x射線(xiàn)導(dǎo)管在10 μm和1.2 mm間切換，以保證獲得測(cè)量條件，無(wú)論是微觀到宏觀。

　　與x射線(xiàn)導(dǎo)管同軸的CCD相機(jī)，可以迅速、精確地定位感興趣區(qū)域。

·單點(diǎn)及多點(diǎn)自動(dòng)分析

　　單點(diǎn)和自動(dòng)多點(diǎn)分析功能使得無(wú)論是從單個(gè)分析位置或是用戶(hù)定義的一系列位置上均可以獲得高質(zhì)量的譜圖?？勺詣?dòng)標(biāo)注元素譜峰。使用基本參數(shù)法或單標(biāo)樣基本參數(shù)法或是標(biāo)準(zhǔn)樣品校正曲線(xiàn)法定量計(jì)算，可測(cè)量ppm級(jí)的含量。膜厚分析軟件可以分析nm級(jí)或μm級(jí)樣品的多層膜厚。

·高光譜面掃描

　　SmartMap軟件在每個(gè)像素點(diǎn)采集元素譜圖。采集結(jié)束后，用戶(hù)可以根據(jù)自己的分析，添加或刪除某個(gè)元素面分布圖，實(shí)現(xiàn)已有數(shù)據(jù)實(shí)現(xiàn)脫機(jī)分析。

　　X射線(xiàn)透射圖像有利于用戶(hù)觀察樣品內(nèi)部構(gòu)造，實(shí)現(xiàn)真正的無(wú)損內(nèi)部觀測(cè)。

特征

　　有著諸多創(chuàng)新的XGT-7200在眾多領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用：電子電器、發(fā)動(dòng)機(jī)磨損分析、法醫(yī)科學(xué)、地質(zhì)礦物、醫(yī)藥、博物館、冶金、生物等。XGT-7200的靈活設(shè)計(jì)，保證用戶(hù)通過(guò)簡(jiǎn)易的操作即可獲得高質(zhì)量的分析結(jié)果，無(wú)論是分析大區(qū)域，還是對(duì)微區(qū)細(xì)節(jié)分析，或是同時(shí)采集X射線(xiàn)熒光圖像和X射線(xiàn)透過(guò)像。

*的空間分辨率

　　HORIBA的X射線(xiàn)光管技術(shù)提供高空間分辨率微區(qū)XRF分析，X射線(xiàn)光斑直徑小到10微米。這種強(qiáng)度的超細(xì)光斑，可進(jìn)行快速無(wú)損的微細(xì)結(jié)構(gòu)分析。

*X射線(xiàn)透過(guò)像

　　同時(shí)采集XRF圖像和X射線(xiàn)透過(guò)像的功能，可以用來(lái)分析無(wú)法用肉眼觀察到的樣品內(nèi)部構(gòu)造和元素組成。采用超細(xì)垂直的X射線(xiàn)束，即使觀察不平坦樣品也可以獲得清晰的內(nèi)部圖像。

*雙真空模式

　　無(wú)二的雙真空模式設(shè)計(jì)- 彼此間的切換在數(shù)秒內(nèi)即可完成。

　　全真空模式，整個(gè)樣品室處于真空氛圍以保證輕元素分析的高靈敏度。

　　局部真空模式，樣品處于大氣氛圍中，適宜于含水樣品的分析，如生物組織、文物碎片和館藏文物等。

*完整地分析整個(gè)樣品

*整合數(shù)據(jù)采集和分析的操作軟件

　　界面友好的操作軟件允許用戶(hù)方便的控制硬件、選擇測(cè)量區(qū)域和全數(shù)據(jù)分析。功能包括：自動(dòng)標(biāo)定譜峰、定性定量測(cè)量、RGB圖像合成，線(xiàn)分析等。大尺寸的樣品室使得分析整個(gè)樣品成為可能，用10微米束斑可以分析微小區(qū)域甚至到測(cè)量大至10cm x 10cm的區(qū)域。

技術(shù)參數(shù)：

測(cè)量元素：

　　Na~U

X射線(xiàn)管：

　　銠（Rh）靶 /管電壓 50 kV / 管電流 1 mA

X射線(xiàn)熒光檢測(cè)器：

　　SDD硅漂移檢測(cè)器

透過(guò)X射線(xiàn)檢測(cè)器：

　　NaI（Ti）晶體

X射線(xiàn)導(dǎo)管：

　　單毛細(xì)管 10μm / 100μm 無(wú)濾光片

光學(xué)圖像：

　　樣品整體光學(xué)像及共軸放大圖像

樣品臺(tái)尺寸：

　　XY：100mm×100mm

樣品倉(cāng)：

　　全真空模式/ 真空 300mm×300mm×80mm

信號(hào)處理：

　　數(shù)值脈沖處理器（INCA處理器）

定性分析：

　　自動(dòng)定義譜峰/ KLM線(xiàn)標(biāo)注/ 譜峰查找/ 譜峰匹配

定量分析：

　　無(wú)標(biāo)樣基本參數(shù)法/ 標(biāo)準(zhǔn)無(wú)標(biāo)樣基本參數(shù)法/ 標(biāo)準(zhǔn)文件匹配基本參數(shù)法/ 校正曲線(xiàn)/ 多層膜基本參數(shù)法/ 多點(diǎn)分析（最多5000）/ 多點(diǎn)結(jié)果輸出至Excel®

面掃描功能：

　　透過(guò)X射線(xiàn)像/ 元素面分布圖/ 譜圖面掃描 /矩形面掃描/ 生成譜圖/ RGB合成/ 標(biāo)尺/ 線(xiàn)分析

其它功能：

　　可同時(shí)開(kāi)啟XGT-5200操作軟件

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